Полный текст публикации: Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность ""
Полный текст публикации: Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность ""
Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок: