Программный комплекс расчета параметров регулярного микрорельефа и контактной жёсткости деталей при ротационном накатывании : регистрация программы для ЭВМ

Описание

Тип публикации: патент

Год издания: 2026

Аннотация: Программа предназначена для расчёта характеристик регулярного микрорельефа, формируемого на наружных цилиндрических и внутренних поверхностях деталей ротационным накатыванием, и прогнозирования контактной жёсткости соединений. При вводе исходных параметров учитываются радиусы инструмента и детали, число деформирующих элементов, режПоказать полностьюимы обработки, свойства материала, шероховатость, а также при необходимости параметры упругого венца и полимерного покрытия. Выходные параметры представляют собой размеры и форму единичного отпечатка, остаточную глубину рельефа, относительную площадь и маслоёмкость, зависимость контактного сближения от давления, секущую и касательную жёсткость. Результаты выводятся в виде таблиц и графиков зависимостей. Программа предназначена для использования в машиностроении при проектировании процессов пластического деформирования и автоматизации расчетов.

Ссылки на полный текст

Вхождение в базы данных

  • РИНЦ (eLIBRARY.RU)