DIFFERENT CONTRIBUTIONS DECOMPOSITION IN ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRA OF Fe-Si SYSTEM : научное издание

Описание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2019

Ключевые слова: полупроводники, силициды железа, спектроскопия потерь энергии отраженных электронов, спектроскопия сечения неупругого рассеяния электронов, факторный анализ, semiconductors, iron silicides, electron energy loss spectroscopy, inelastic electron scattering cross section spectroscopy, factor analysis

Аннотация: Photoelectric converters are widely used in nanotechnology due to their possibility to convert photon energy into electrical energy without big energy losses. They are produced with semiconductor materials as iron silicides. Electron energy loss spectroscopy is widely used to research these materials. Inelastic electron scattering Показать полностьюcross section spectra were obtained from reflection electron energy loss spectra. In this paper factor analysis of inelastic electron scattering cross section spectra for Fe-Si samples were carried out. С развитием нанотехнологий всё большее применение получают фотоэлектрические преобразователи, которые позволяют превратить энергию фотонов в электрическую без больших потерь. В их составе активно используются полупроводниковые материалы, а в частности, силициды железа, исследование которых удобно проводить посредством спектроскопии характеристических потерь энергии электронов. Спектры сечения неупругого рассеяния электронов были получены из спектров характеристических потерь энергии электронов. Проведен факторный анализ спектров образцов Fe-Si.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Молодежь. Общество. Современная наука, техника и инновации

Выпуск журнала: 18

Номера страниц: 19-21

Место издания: Красноярск

Издатель: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет науки и технологий имени академика М.Ф. Решетнева"

Персоны

  • Andryushchenko T. A. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)

Вхождение в базы данных

  • РИНЦ (eLIBRARY.RU)