Перевод названия: METHOD OF MUTATION TESTING OF ELECTRONIC EQUIPMENT AND ITS CONTROL SOFTWARE WITH DETERMINATION OF MUTATION LOCALIZATION
Тип публикации: патент
Год издания: 2018
Аннотация: Изобретение относится к компьютерным системам, основанным на специфических вычислительных моделях. Техническим результатом изобретения является увеличение вероятности обнаружения неисправностей электронной аппаратуры. Способ мутационного тестирования электронной аппаратуры и ее управляющего программного обеспечения (ПО) заключается в том, что на языках описания аппаратуры создают проект исправной модели электронного устройства, имитирующей поведение его каналов ввода-вывода и проект модели электронного устройства с неисправностями. Записывают получившиеся проекты модели в программируемую логическую интегральную схему (ПЛИС) устройства имитации неисправностей. Проводят тестирование на этой модели. Сравнивают результаты тестирования от исправной и неисправной моделей. Если в процессе тестирования исправной модели неисправностей не обнаруживают, а при тестировании неисправной обнаруживают весь массив внесенных неисправностей, то электронную аппаратуру или ее управляющее ПО считают прошедшими тестирование. 1 з.п. ф-лы. FIELD: computer equipment. SUBSTANCE: invention relates to the computer systems based on the specific computing models. Method of mutational testing of electronic equipment and its control software lies in the fact that in the equipment description languages the design of an operational model of the electronic device is created, this model simulates the behavior of its inlet-outlet channels and the design of an electronic device with malfunctions is created. Resulting model projects are recorded in the field programmable gate array (FPGA) of the fault simulation device. Testing is carried out on this model. Test results from the operational and faulty models are compared. If no faults is detected during the testing of the operational model, and when testing the faulty the entire array of introduced faults is revealed, the electronic equipment or its control software is considered to have passed the testing. EFFECT: technical result of the invention is the increased probability of detecting the faults of electronic equipment. 1 cl